한국나노분석랩

반도체 신뢰성 시험

고온/저온 동작수명 시험
(HTOL / LTOL)
수분민감도 평가(MSL)
고온저장 시험 (HTS)
항온항습 시험 (THB)
초가속스트레스 시험 (HAST)
열충격 시험 (TS)
온도사이클링 시험 (TC)
전원온도사이클 시험 (PTC)
염수분무 시험 (SA)

고온저장 시험 (HTS)

High Temperature Storage Test (HTS), 고온저장 시험은 제품을 장시간 특정온도에 노출시켜 받는 영향을 평가하는 시험입니다.

특정 온도에서 장시간 제품을 보관하여 신뢰성 영향을 평가할 뿐만 아니라 특정 신뢰성 시험 전 수분을 제거하기 위한 전처리 시험으로도 사용됩니다.
전기적인 스트레스 없이 고온 환경에서 제품의 변형이나 부식 등의 신뢰성 평가하고, 필요에 따라 제품에 Bias 를 인가하여 수명 등의 평가도 가능합니다.