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분석기술

비파괴 분석

SAT Analysis

SAT (Scanning Acoustic Tomography), 즉 초음파 분석장비는 초음파의 물리적 성질을 이용해 시료 내부의 결함을 확인할 수 있는 대표적인 비파괴 분석 장비 중 하나입니다.
SAM (Scanning Acoustic Microscope) 라고도 불리며, 다양한 주파수 사양의 탐촉자에서 발생되는 초음파를 시료 내부에 침투시켜 초음파의 진행 경로상에 공기층이 존재할 경우
반사되어 돌아오는 그 음파를 감지해 박리, 크랙, 보이드 등의 다양한 불량 현상을 검출하는데 용이한 분석 항목 입니다.

분석 기술

De-lamination, Crack, Void

장비

  • SAT Analysis
    제작사 및 모델명
    OKOS | VUE 400-P NexGen
    장비 설명
    Transducer Frequency (MHz) : 15, 25, 50, 75, 110
    Accuracy : +/- 0.5 micron
    Scan Envelope: 360mm X 350mm X 35mm (XYZ)
    Scan Mode: C-scan, T-scan, B-scan, A-scan

기술사례

  • C-scan
  • T-scan
  • A-scan(박리파형)
  • A-scan(정상파형)

기술 및 서비스 문의

  • 분석기술팀 김철수 팀장
    Tel. 031-283-9677
    E-mail. chulsoo.kim@knal.co.kr