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신뢰성시험

반도체 신뢰성 시험

수분민감도 평가 (MSL)

Moisture Sensitivity Level Classification (MSL), 수분민감도 평가는 수분을 흡수한 반도체 부품이 실장 과정에서 발생되는 온도 스트레스에 어느 정도의 영향을 받는지 평가하거나
민감도 수준을 정하기 위한 시험입니다.
반도체 부품에 사용되는 Package Material 이나 구조 등에 따라 수분이 침투되는 정도가 다르며, 실장 과정 (SMT) 에서 발생되는 열은 침투된 수분을 팽창시켜 부품 내부의 재료 간 계면에 박리 (Delamination) 나 크랙 (Crack) 과 같은 현상을 발생시킵니다. 이러한 현상은 부품을 사용하는 과정에서 점차적으로 확장되어 전기적인 신호를 주고받는
Wire 나 Chip 에 영향을 미쳐 Open 성 불량을 유발할 수 있습니다. 이와 같은 현상을 방지하기 위해 반도체 부품에 따라 수분민감도 수준을 평가하고 SMT 과정을 모사하여
제품에 미치는 영향을 평가하는 시험 과정입니다.

시험 절차

*MSL (Moisture Sensitivity Levels) Table
Level Floor Life Soak Requiremets
Standard Accelerated Equivalent
eV 0.4~0.48 eV 0.3~0.39 Condition
Time Condition Time(hrs) Condition Time(hrs) Time(hrs)
1 Unlimited ≤30℃/85% RH 168 +5/-0 85℃/85% RH NA NA NA
2 1 year ≤30℃/60% RH 168 +5/-0 85℃/60% RH NA NA NA
2a 4 week ≤30℃/60% RH 962 +5/-0 30℃/60% RH 120 +1/-0 168 +1/-0 60℃/60% RH
3 168hrs ≤30℃/60% RH 192 +5/-0 30℃/60% RH 40 +1/-0 52 +1/-0 60℃/60% RH
4 72hrs ≤30℃/60% RH 96 +5/-0 30℃/60% RH 20 +0.5/-0 24 +0.5/-0 60℃/60% RH
5 48hrs ≤30℃/60% RH 72 +5/-0 30℃/60% RH 15 +0.5/-0 20 +0.5/-0 60℃/60% RH
5a 24 hrs ≤30℃/60% RH 48 +5/-0 30℃/60% RH 10 +0.5/-0 13 +0.5/-0 60℃/60% RH
6 Time on Label(TOL) ≤30℃/60% RH TOL 30℃/60% RH NA NA NA

장비

  • SAT
    제작사 및 모델명
    OKOS | VUE 400-P NexGen
    장비 설명
    Transducer Frequency (MHz) : 15, 25, 50, 75, 110
    Accuracy : +/- 0.5 micron
    Scan Envelope: 360mm X 350mm X 35mm (XYZ)
    Scan Mode: C-scan, T-scan, B-scan, A-scan
  • TC
    제작사 및 모델명
    Espec | TSD-100
    장비 설명
    Interior Dimensions : W710 x D410 x H345
    Temperature Range : -77 ℃ ~ 205 ℃
    챔버 이동 (2 Zone 엘리베이터 타입)
  • HTS
    제작사 및 모델명
    ESPEC | BTU-433
    장비 설명
    Interior Dimensions : W500 x D380 x H600
    Temperature Range : -20 ℃ ~ 180 ℃
  • TH
    제작사 및 모델명
    ESPEC | PL-2KP
    장비 설명
    Interior Dimensions : W500 x D600 x H750
    Temperature Range : -40 ℃ ~ 100 ℃
    Humidity Range : 20% ~ 90% / R.H.
  • Reflow
    제작사 및 모델명
    HELLER | 1913EXL
    장비 설명
    Heating Zone : 125~300℃, Max. Temp. : 350℃
    Cooling Zone : 80~90℃
    Operating Temperatures : 350 ℃ ~ 450 ℃

시험 규격

  • J-STD-020
  • JESD22-A113
  • JESD47

기술 및 서비스 문의

  • 시험기술팀 임동주 팀장
    Tel. 031-283-9678
    E-mail. dongju.lim@knal.co.kr